Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural.
Publisher: EPFL Press
Collection: METIS Lyon Tech
Published: 9 august 2011
Edition: 1st edition
Media: Book
Pages count Book: 600
Format (in mm) Book: 160 x 240
Weight (in grammes): 1180
Language(s): French
EAN13 Book: 9782880748845
Gilles Corneloup, Cécile Gueudré
46,45 €
Bernard Normand, Roland Oltra, Nadine Pébère
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Daniel Babot, Véronique Massardier-Jourdan
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